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紅外熱像儀應用于LED檢測
紅外熱像儀應用于LED檢測
LED作為取代傳統照明工具(如白熾燈、鹵素燈等)的新型光源,但其散熱效果嚴重影響LED的實際使用壽命,散熱工藝成為LED應用和發展的關鍵因素,紅外熱像儀可以進行LED溫度檢測,幫助驗證散熱工藝。
LED筒介
LED(Light Emitting Diode)又稱發光二極管,是利用固體半導體芯片作為發光材料,當兩端施加正向電壓時,半導體中的載流子發生復合,放出過剩的能量而引起光子發射產生可見光、遠紅外、近紅外光。
LED是一種新型的固態光源,已經在特殊領域顯現出自身優異的效果,各種類型的LED、利用LED作二次開發的產品有與LED配套的產品發展迅速,新產品不斷上市,已發展成不少新型產業。展望將來,還期望更進一步的提高。
熱像儀在LED行業中有哪些主要應用點?
事實上,LED的實際壽命一工作溫度往往成反比,如LED使用壽命在工作溫度為74℃為
10000小時,63為25000小時,小于59,則可為50000小時。根本原因是LED的光電轉換效率極差,大約只有15%至20%左右電能轉為光輸出,其余均轉換成為熱能,因此,當大量使用高功率的LED于一塊模組,應用于高亮度的操作時,這些極差的轉換效率將造成成散熱處理的大問題。
熱像儀不僅在研發過程中能夠了發揮作用,而且也可以應用在產品的品質管理等方面。
1. 研發,主要是對LED模塊驅動電路(包括電源)、光源半導體發熱分布分析、及光衰測試等。
a) LED產品研發中,需要工程師進行一部分驅動電路設計,如整流器電路模塊。利用熱像儀,工程師可以迅速而便宜捷地發現電路上溫度異常之處,便于完善電路設計。
b) LED光源半導體芯片發熱
利用熱像儀、工程師可以所得到的光源半導體芯片發熱紅外熱圖,分板出其芯片在工作時的溫度,以及溫度的分布情況,在些基礎,達到提高LED產品壽命的目的。
c) 光衰試驗
LED產呂的光衰就是光在傳輸中的信號減弱,而現階段全球的LED大廠們做出的LED產品光衰程度都不相同,大功率LED同樣存在光衰,這和溫度有著直接的關系,主要是由晶片、熒光粉和封裝技術決定的。
目前,市場上的白光LED其光衰可能是向民用照明進軍的首要問題之一。
2. 品質管理
a) 半導體照明:吹制燈泡均勻性
通過像儀抓拍產線玻璃吹泡的過程,進行參數修正,改善掐口工藝,可以有效提高產品成品率,降低成本。
b) LED檢測芯片封裝前的溫度
LED芯片封裝前檢測溫度可以避免封裝后因溫度異常,降低廢品率。此階段手不能接觸表面,熱像儀能夠很好地幫助客戶發現此處的問題,作為流水線檢測工具。
LED成品測試
IR-Fusion
c) LED成品顯示屏開機測試
LED顯示屏完成后,要做后驗收,通過不同顏色的測試來看屏幕是否符合交貨的要求,目前大多數企業都沒有這個流程。使用熱像儀后,能夠為廠家完善產品檢測標準,提高產品質量。
典型客戶
飛利浦、松下電器等。
紅外熱像儀的獨特作用
在使用熱像儀前,LED產品企業一直都沒有很好的解決這個問題手段或方法。熱像儀能夠發揮獨特作用:
1. 通過紅外線熱像儀檢測目標時,不需要斷電,操作方便,同時非接觸測量原有的溫度場不受干擾;反應速度較快,小于1毫秒。
2. Fluke熱像儀IR-Fusion技術:用戶采用Fluke**IR-Fusion技術除了可以拍攝紅外圖像外,還可以同時捕獲一幅可見光照片,并裝其融合在一起,有助于時間識別和定位故障。
拍攝時可能會遇到哪些問題?
可能由于觀察目標太小,使用160X120熱像儀時,會發生很難發現準確的故障點,需要我們更換320X240熱像儀(甚至需要更換鏡頭)進行檢測。
如何才能拍攝上等的紅外熱像?
使用熱像儀進行拍攝時,若要得到一幅優良的紅外熱圖,我們建議:
1. 需要分辨較小的溫差場合,盡量選擇熱靈敏度較高的熱像儀;
2. 先用自模式測量溫度范圍;然后手動設置水平及跨度,將溫度范圍設置在小,并包含有先前測量的溫度范圍。
Fluke紅外熱像儀,可望可及,問題點即拍即得。
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